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              惠州市華高儀器設備有限公司
              聯系人:范志華
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              UX-720 X射線熒光鍍層測厚儀

              X射線熒光鍍層測厚儀

              • 更新日期:2024-04-02
              • 訪問次數:2288?

              X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720:Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業界*。 采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

                X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720華唯
                

                 配置型號

              探測器

              X光管

              高壓電源

              Ux-720 M

              AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

              上??祁U維(國產)

              咸陽威思曼(國產)

              Ux-720 H

              AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

              上??祁U維(國產)

              spellman(進口)

              Ux-720 S

              AMPTEK SDD X-123(進口)

              上??祁U維(國產)

              spellman(進口)

               

                產品指標:
               
                測厚技術:X射線熒光測厚技術
               
                測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
               
                測量下限:0.003um
               
                測量上限:30-50um(以材料元素判定)
               
                測量層數:10層
               
                測量用時:30-120秒
               
                探測器類型:Si-PIN電制冷
               
                探測器分辨率:145eV
               
                高壓范圍:0-50Kv,50W
               
                X光管參數:0-50Kv,50W,側窗類;
               
                光管靶材:Mo靶;
               
                濾光片:3種自動切換;
               
                CCD觀察:260萬像素
               
                微移動范圍:XY15mm
               
                輸入電壓:AC220V,50/60Hz
               
                測試環境:非真空條件
               
                數據通訊:USB2.0模式
               
                準直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
               
                軟件方法:FlexFP-Mult
               
                工作區:開放工作區 自定義
               
                樣品腔:330×360×100mm
               
                X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720產品介紹:
               
                Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結果業界。
               
                采用了FlexFP-Multi技術,無論是生產過程中的質量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
               
                Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調節設計在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。
               
                X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
               
                Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結果經得起科學驗證。
               
                樣品移動設計為樣品腔外部調節,多點測試時移動樣品方便快捷,有助于提升效率。
               
                設計更科學,軟硬件配合,機電聯動,輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
               
                軟件操作具有操作人員分級管理權限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。
               
                 Ux-720標準配件
               
                樣品固定支架1支
               
                窗口支撐薄膜:100張
               
                保險管:3支
               
                計算機主機:品牌+雙核
               
                顯示屏:19吋液晶
               
                打印機:噴墨打印機
               
                 Ux-720可選配件
               
                可升級為SDD探測器
               
                可以實現全自動一鍵操作功能,準直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋隨意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報告自動彈出,供應商信息自動篩選和保存
               

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