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            • 貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,運用*于的基本參數法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素,其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
            • Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149&amp;amp;amp;amp;#177;5eV,運用*于的基本參數法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素,其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
            • 貴金屬元素分析儀

              更新日期:2024-04-02

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              貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149±5eV,運用*于的基本參數法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素。
            • 貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,運用*于的基本參數法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質元素,其穩定性和可靠性均處于業內*水平。
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